2024年11月28日，SGS在台南南科育成中心成功舉辦「先進半導體製造環境監測趨勢研討會」。此次研討會匯集半導體業界與學術界的專家，深入探討了環境監測技術及其在半導體廠務端的應用，吸引眾多產業人士到場參與，現場氣氛熱烈。
活動由SGS副總裁黃進輝先生開場，他強調了半導體在廠內的環控環境朝向自動化即時監測技術發展以因應未來2nm技術的挑戰。
粒狀污染物監測新突破：蕭大智教授剖析技術前沿與發展核心
由臺大環工所蕭大智教授帶來首場專題演講，分享粒狀污染物自動監測的最新技術趨勢，為與會者提供了學理上發展關鍵核心所在。
聚焦環境監測與安全技術：四大主題議程深入解析
下午的議程涵蓋4個重點主題，包括創控科技吳惠芳副處長探討的「從實驗室到現地AMC監測發展趨勢」、堅尼士顧問林亮祐技師的「危險區域劃分」法規面與實務面解析，以及志尚儀器郭武居經理對「氣體監測技術發展」的詳細介紹。最後，SGS吳逸群博士總結並介紹了超微量半導體環境測試服務，展示了SGS在SEMI環境監測領域的全面性的服務。
與會者在午餐交流與綜合討論充分交流增進了產業與學術之間的合作。參與者普遍表示，此次研討會促進了技術交流，提供半導體業界迎接環境監測的未來挑戰。
此次活動展現了SGS對於推動綠色半導體製造的承諾，也為業界注入了新思維。SGS期待未來與更多夥伴攜手，共同促進產業的永續發展！
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